一、设备型号、名称

XBD2000系列微机控制电子试验机
二、主要技术参数

三、性能特点

（一）机械工艺结构：

主机架主要由底座、三根立柱和一根丝杠构成单臂框架结构；传动加载系统采用交流伺服电机及同步齿形带减速装置，带动高精密滚珠丝杠转动，再驱动移动横梁实现加载。本机造型美观，稳定性好，刚性大，控制精度高，工作效率高，噪音低，节能环保。

（二）控制及测量系统：

本机采用先进的Test4.0全数字闭环控制系统进行控制及测量，采用电脑进行试验过程及试验曲线的动态显示，并进行数据处理。试验结束后可通过图形处理模块对曲线放大进行数据再分析编辑，性能达到国际先进水平。

1.实现专用的位移、变形、速度闭环控制。

试验过程中，可灵活更改试验速度及试验方法，以使试验方案更加灵活、更加充实；

1.1多层保护：具有软件和硬件两级保护功能，可实现对试验机的过载、过流、过压、欠压、过速、限位等多种安全保护方式；

1.2路高速24位A/D转换通道，有效码值分辨率高可达±30万分之一，实现了内外不分档，且全程分辨率不变；

1.3采用232或串口通讯，数据传输稳定，抗干扰能力强；

1.4采用3路脉冲信号捕获通道（3路脉冲信号分别为1路位移和2路大变形信号），并且采用目前先进的四倍频技术，使有效脉冲数量放大四倍，大大提高了信号的分辨率，高捕获频率为5MHz；

1.5一路伺服电机数字驱动信号，PWM输出的高频率为5MHz，低为0.01Hz。

2.※控制及测量系统的技术优势：

2.1Test4.0全数字闭环控制系统

Test4.0全数字闭环控制系统是我公司新研发的新一代试验机专业控制系统，它采用了当前国际先进的伺服电机专业控制芯片和多通道数据采集处理模块，确保了系统采样的一致性和高速有效的控制功能，确保了系统的先进性。系统设计上尽量使用硬件模块，确保了产品的稳定。

2.2高效专业的控制平台

Test4.0是专用于自动控制的IC，内部是DSP+MCU的组合。它集成了DSP运算速度快和MCU对I/O口控制能力强的优点，其整体性能明显优于单纯的DSP或32位单片机。其内部集成了硬件的电机控制所需模块，例如：PWM，QEI等。使系统的关键性能由硬件模块，确保了系统的安全平稳运行。

3.以硬件为基础的并行采样模式

本系统的另一亮点是采用了专用ASIC芯片。通过ASIC芯片可对试验机各传感器信号实现同步采集，使我们在国内实现真正以硬件为基础的并行采样模式，避免了以往对各传感器通道分时采样造成的载荷和变形不同步的问题。

4.位置脉冲信号硬件滤波功能

光电编码器位置捕获模块采用专用硬件模块，内置24级滤波器，对采集的脉冲信号进行整形滤波，避免了位置脉冲捕获系统因干扰脉冲的出现而造成错误计数，更有效的确保了位置精度，使位置脉冲捕获系统能稳定的工作。

5.控制功能底层实现

专用ASIC芯片分担了采样、状态监控等一系列外围工作，而通讯等相关工作由内部硬件模块实现，所以DSC更能专注于控制PID计算等主体工作，不仅更加，而且控制的响应速度更快，从而使我们的系统由控制板底层运算就完成了PID调整与控制输出，真正实现了闭环控制在系统底层完成。